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CUT B - Cutting Edge Charakterisierung und Technologie für die deutsche PV-Industrie, Teilvorhaben: Process Intelligence - Methoden der Verlust-, Prozess- und Sensitivitätsanalyse für PERC-Solarzellen

Description: Das Projekt "CUT B - Cutting Edge Charakterisierung und Technologie für die deutsche PV-Industrie, Teilvorhaben: Process Intelligence - Methoden der Verlust-, Prozess- und Sensitivitätsanalyse für PERC-Solarzellen" wird/wurde gefördert durch: Bundesministerium für Wirtschaft und Klimaschutz. Es wird/wurde ausgeführt durch: Fraunhofer-Institut für Solare Energiesysteme.Das Gesamtziel der Vorhaben CUT-A (FKZ 0325823) und CUT-B ist die Entwicklung, Erprobung und Bereitstellung von modernster Charakterisierung und Technologie, die die kosteneffiziente Herstellung von PERC Solarzellen mit einem Wirkungsgrad von über 20% und geringerer Schwankungs-breite ermöglichen. Während im Projekt CUT-A die erforderlichen Technologien entwickelt werden, werden im Projekt CUT-B innovative Konzepte der Inline-Prozesskontrolle und der simulationsgestützten Sensitivitätsanalyse des Gesamtprozesses hinsichtlich Prozessschwankungen entwickelt. Ausgewählte Charakterisierungsverfahren werden dabei entscheidend verbessert, sodass mittels der Inline-Prozesskontrolle und der begleitend durchgeführten, simulationsgestützten Sensitivitätsanalyse des Prozesses der Einfluss von Prozessschwankungen auf den Solarzellenwirkungsgrad verstanden und theoretisch wie experimentell quantifiziert werden kann. Diese Konzepte sollen im Projekt CUT-A für eine systematische Qualifizierung und Optimierung des Fertigungsprozesses angewandt werden, sodass die Prozessentwicklung für PERC-Solarzellen deutlich effizienter gestaltet werden kann. Die wesentlichen inhaltlichen Arbeitspakete des Projektes sind: (1) Entwicklung von Process Intelligence Methoden (Verlustanalyse, Sensitivitätsanalyse, automatische Datenanalyse) (2) Weiterentwicklung PL-Systems (Photolumineszenz) und PL-Methoden an teilprozessierten Wafern (3) Weiterentwickung MDP-System / MDP-Monitoring (mikrowellendetektierte Photoleitfähigkeitsmessung) (4) Weiterentwicklung optische Messsysteme (Mikrorisskontrolle, Texturanalyse, Schichtanalyse).

Types:
SupportProgram

Origins: /Bund/UBA/UFORDAT

Tags: Messgerät ? Optik ? Messeinrichtung ? Photovoltaik ? Sensor ? Solarzelle ? Solarindustrie ? Materialprüfung ? Verfahrensoptimierung ? Qualitätsmanagement ? Monitoring ? Messverfahren ? Mikrowellen ? Produktionstechnik ? Prüfverfahren ? Quantitative Analyse ? Sensitivitätsanalyse ? Automatisierung ? Simulation ? Statistische Analyse ? Leitfähigkeit ? Wirkungsgrad ? Klimaschutz ? Lumineszenz ? Prozesskettenanalyse ? Kosteneffizienz ? Messdaten ? Halbleiter ? Anlagenbetrieb ? Effizienzsteigerung ? Betriebsparameter ? PERC-Solarzelle ? Photolumineszenz ? Auswertungsverfahren ? Risserkennung ? Lebensdauer [Technik] ?

Region: Baden-Württemberg

Bounding boxes: 9° .. 9° x 48.5° .. 48.5°

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License: cc-by-nc-nd/4.0

Language: Deutsch

Organisations

Time ranges: 2015-12-01 - 2018-11-30

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