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Tags: Substrat ? Kohlenstoff ? Silizium ? Materialschaden ? Prüfverfahren ? Wirtschaftlichkeit ? Energieeffizienz ? Bauteil ? Physikalische Größe ? Materialprüfung ? 4H-SiC-Wafer ? Halbleiter ? Kristallisation ? Metallcarbid ? Siliciumcarbid ?
Bounding boxes: 8.976365399999999° .. 13.8396495° x 47.2701114° .. 50.5647142° 8.975925858835046° .. 13.839584445425059° x 47.27012360469913° .. 50.56422474230778°
License: Creative Commons Namensnennung-keine Bearbeitung-Nichtkommerziell 4.0
Language: Deutsch
Last harvest: 10.07.2026 00:08
Time ranges: 2010-05-01 - 2013-04-30
Webseite zum Förderprojekt
https://www.tib.eu/de/filter?repno=13N10731 (Webseite) ✓Accessed 1 times.