Description: Die Ziele, die Hennecke in diesem Projekt verfolgt sind sehr stark orientiert an Verbesserungen und Neuentwicklungen der Waferinspektionsautomaten, die in der Folge einen Vorsprung vor den Mitbewerbern am Markt und erhöhte Chancen im Verkauf der Anlagen bedeuten. Insbesondere ein Waferratingverfahren und eine inline-Kornstrukturanalyse können für die Hennecke-Messtechnik ein Alleinstellungsmerkmal und Verkaufsargument sein.
SupportProgram
Tags: Silizium ? Material ? Messtechnik ? Verfahrensoptimierung ? Automatisierung ? Bewertungsverfahren ? Industrieproduktion ? Korngröße ? Messverfahren ? Prüfverfahren ? Qualitative Analyse ? Schnelltest ? Produktbewertung ? Korrelationsanalyse ? Materialprüfung ? Überwachungs- und Kontrollinstrumente ? Betriebsparameter ? Kristallisation ? Lebensdauer [Technik] ? Monokristalline Solarzelle ? Polykristalline Solarzelle ? Werkstoffkunde ?
Region: Nordrhein-Westfalen Nordrhein-Westfalen
Bounding boxes: 5.8663153° .. 9.4617417° x 50.3226897° .. 52.531493499999996° 5.8662503507406045° .. 9.461478369136085° x 50.323011952581965° .. 52.53144342795586°
License: Creative Commons Namensnennung-keine Bearbeitung-Nichtkommerziell 4.0
Language: Deutsch
Last harvest: 23.07.2026 01:26
Time ranges: 2017-01-01 - 2019-12-31
Webseite zum Förderprojekt
https://www.tib.eu/de/filter/?repno=0324103F (Webseite) ✓Accessed 1 times.