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Physikalische Feinkartierung von Resistenzmarkern fuer Zuenslerresistenz bei tropischem Mais (Zea mays L.)

Das Projekt "Physikalische Feinkartierung von Resistenzmarkern fuer Zuenslerresistenz bei tropischem Mais (Zea mays L.)" wird vom Umweltbundesamt gefördert und von Universität Hohenheim, Fakultät III Agrarwissenschaften I, Institut für Pflanzenzüchtung, Saatgutforschung und Populationsgenetik, Fachgebiet Pflanzenzüchtung und Biotechnologie durchgeführt. Beim Maisanbau in tropischen und subtropischen Gebieten verursachen die Larven verschiedener Insekten durch Frassschaeden z.T. grosse Ernteausfaelle. Durch zahlreiche Zuchtprogramme konnten bisher Populationen mit einer verbesserten Resistenz gegen diesen Schaderregerbefall entwickelt werden. Es ist nun erforderlich, das Merkmal Resistenz in standortadaptierte Sorten einzukreuzen. Im Gegensatz zu konventionellen Zuchtprogrammen bietet hier die markergestuetzte Selektion eine weniger kosten- und zeitintensivere Moeglichkeit der Einkreuzung dieser Eigenschaft. Fuer deren effektiven Einsatz ist jedoch eine genauere Kartierung der bisher grob kartierten Resistenzgene erforderlich. Im Rahmen dieses Projektes soll deshalb die Markerdichte in den entsprechenden Chromosomenabschnitten erhoeht werden. Mit Hilfe eines Lasermikrostrahls werden Chromosomenarme in mehrere Segmente geschnitten, und isoliert. Die DNA der Segmente wird zu segmentspezifischen DNA-Bibliotheken kloniert. Diese Sonden stehen dann zur Untersuchung ihrer Markereignung in Zuchtprogrammen zur Verfuegung. Zur vereinfachten Analyse der Kreuzungsnachkommen soll geprueft werden, ob sich DNA-Sequenzen aus chromosomensegmentspezifischen Sonden als Primer fuer den Einsatz bei der Polymerase Kettenreaktion (PCR) eignen.

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